ミニフレ (Rigaku MiniFlex) によって取得された XRD データに装置と試料のパラメータに基づいた逆畳込的処理を施しても低角領域では左右非対称な回折ピーク形状しか得られなかった。ミニフレは非対称なピーク形状の変形をもたらす特性を持つと仮定し，通常の逆畳込的処理の後に「ミニフレ補整」(MiniFlex shaping) を施し，合わせて適応型逆畳込的処理 (adaptive deconvolutional treatment; aDCT) と呼ぶこととする。
https://takashiida.sadist.jp/public/education/powder-xrd/20260421_MiniFlex_Shaper.pdf
NIST SRM 640d Si と SRM 660c LaB6 について，ミニフレを用いて取得されたデータであっても，適応型逆畳込的処理を施すことで低角領域でも 左右対称なピーク形状の得られることが確認された。
SRM 640d Si の XRD データに aDCT 処理をした結果から 2Θ 角度補正曲線を求め，SRM 660c LaB6 の XRD データに aDCT 処理を施すと保証書記載位置から低角側にピーク位置がずれたが，基準とした Si 粉末試料が「粉を詰めすぎ」の状態だったからと推測される。
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